[1]
АВАКОВ, С.М., ВОРОНОВ, А.А. и ГАНЧЕНКО, В.В. 2024. ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки. 2 (ноя. 2024), 2-9. DOI:https://doi.org/10.52928/2070-1624-2024-43-2-2-9.