АВАКОВ, С. М.; ВОРОНОВ, А. А.; ГАНЧЕНКО, В. В. ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки 2024, 2-9.