АВАКОВ, С. М., ВОРОНОВ, А. А., & ГАНЧЕНКО, В. В. (2024). ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, (2), 2-9. https://doi.org/10.52928/2070-1624-2024-43-2-2-9