АВАКОВ, С. М.; ВОРОНОВ, А. А.; ГАНЧЕНКО, В. В. ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, [S. l.], n. 2, p. 2-9, 2024. DOI: 10.52928/2070-1624-2024-43-2-2-9. Disponível em: https://journals.psu.by/fundamental/article/view/6708. Acesso em: 21 ноя. 2024.