[1]
С. М. АВАКОВ, А. А. ВОРОНОВ, и В. В. ГАНЧЕНКО, «ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ», Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, вып. 2, сс. 2-9, ноя. 2024.