АВАКОВ, С. М., А. А. ВОРОНОВ, и В. В. ГАНЧЕНКО. «ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ». Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, вып. 2, ноябрь 2024 г., сс. 2-9, doi:10.52928/2070-1624-2024-43-2-2-9.