АВАКОВ, С. М., А. А. ВОРОНОВ, и В. В. ГАНЧЕНКО. «ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ». Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, no. 2 (ноябрь 18, 2024): 2-9. просмотрено ноябрь 21, 2024. https://journals.psu.by/fundamental/article/view/6708.