АВАКОВ СМ, ВОРОНОВ АА, ГАНЧЕНКО ВВ. ПРИНЦИПЫ ПРОЕКТИРОВАНИЯ И РАЗРАБОТКИ ПРОГРАММНОГО ОБЕСПЕЧЕНИЯ ДЛЯ ОБОРУДОВАНИЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ТОПОЛОГИЧЕСКИХ СТРУКТУР В МИКРОЭЛЕКТРОНИКЕ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки [Интернет]. 18 ноябрь 2024 г. [цитируется по 21 ноябрь 2024 г.];(2):2-9. доступно на: https://journals.psu.by/fundamental/article/view/6708