ИСПОЛЬЗОВАНИЕ КОМПЬЮТЕРНОГО ЗРЕНИЯ ДЛЯ ПОИСКА КОНТУРОВ ОБЪЕКТОВ

С. И. РОГОВСКИЙ

Авторы

С. И. РОГОВСКИЙ Полоцкий государственный университет

Аннотация

Рассмотрены вопросы использования цифровой обработки изображений поверхности при испытаниях на микротвердость для определения геометрических размеров отпечатков, зоны деформации. Построен алгоритм обработки изображения и реализована программа обработки. Результаты моделирования могут быть использованы при испытаниях полимерных пленок на микротвердость для определения прочностных характеристик: микротвердости, трещиностойкости, удельной энергии отслаивания.

Библиографические ссылки

Литвинов, Ю.М. Методология определения механических свойств полупроводниковых материалов с помощью метода непрерывного вдавливания индентора / Ю.М. Литвинов, М.Ю.Литвинов // Известия вузов. Материалы электронной техники. – 2004. – № 4. – С.11-16.

Анисович, А.Г. Оптические эффекты при микроскопии неметаллических материалов / А.Г.Анисович // Литье и металлургия. – 2017. – №1. – С.110-114.

Bradski, G. Learning OpenCV. Computer vision with the OpenCV library/ G.Bradski, A.Kaehler // O'Reilly Media, Inc., – 2008. – 580 р.

Вабищевич, С.А. Физико-механические свойства облученных пленок диазохинон-новолачного фоторезиста на кремнии / С.А. Вабищевич [и др.] // Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки. Физика – 2020. – № 12. – C.60-64.

Прочностные свойства структур фоторезист-кремний, γ-облученных и имплантированных ионами В+ и Р+ / С.А. Вабищевич [и др.] // Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки. Физика – 2016. – № 12. – C.30-36.

Vabishchevich S.A., Brinkevich S.D., Brinkevich D.I., Prosolovich V.S. Adhesion of diazoquinon-novolac photoresist films with implanted boron and phosphorus ions to single-crystal silicon // High energy chemistry. – 2020. – V.54, № 1. – P.46-50.