СОЗДАНИЕ УНИВЕРСАЛЬНОГО АЛГОРИТМА ВЫЯВЛЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ТЕХНОЛОГИИ КОМПЬЮТЕРНОГО ЗРЕНИЯ
Аннотация
Рассмотрены вопросы использования компьютерного зрения для обработки изображений, полученных при травлении полупроводников, для определения границ дефектов упаковки и точечных дефектов. Создана программа обработки изображений с возможностью дальнейшего использования данных обработки. Результаты работы могут быть применены в материаловедении для автоматизации поиска дефектов с помощью камеры.
Библиографические ссылки
Живрин, Я. Э. Методы определения объектов на изображении / Я. Э. Живрин, Нафе Башар Алкзир. – Текст: непосредственный // Молодой ученый. – 2018. – № 7 (193). – С. 8-19. – URL: https://moluch.ru/archive/193/48447/ (дата обращения: 10.09.2023).
Alberto Fernández Villán, Mastering OpenCV 4 with Python. A practical guide covering topics from image processing, augmented reality to deep learning with OpenCV 4 and Python 3.7//ISBN-9781789344912, -2019, -532c
Bradski, G. Learning OpenCV. Computer vision with the OpenCV library/ G.Bradski, A.Kaehler O,Reilly Media, Inc., – 2008. – 580 р.
Ольховская, И. М. Создание алгоритма для определения размеров и плотности дефектов с использованием технологии компьютерного зрения / И.М.Ольховская// Электронный сборник трудов молодых специалистов Полоцкого государственного университета имени Евфросинии Полоцкой [Электронный ресурс]. – Новополоцк: Полоцкий государственный университет, 2022. – Вып. 45(115). Промышленность. – 1 электрон. опт. диск. – С.58-60.
Загрузки
Опубликован
Выпуск
Раздел
Как цитировать
Лицензия
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution» («Атрибуция») 4.0 Всемирная.
