P-I-N-ФОТОДИОДЫ С ГЕТТЕРАМИ, СОЗДАННЫМИ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ ОСНОВНЫХ ЛЕГИРУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ

##plugins.themes.bootstrap3.article.main##

В. Б. ОДЖАЕВ
А. Н. ПЕТЛИЦКИЙ
В. С. ПРОСОЛОВИЧ
Д. В. ШЕСТОВСКИЙ
В. Ю. ЯВИД
Ю. Н. ЯНКОВСКИЙ
Б. К. ИСМАЙЛОВ
З. Т. КЕНЖАЕВ
Н. В. ВАБИЩЕВИЧ

Аннотация

Исследованы вольт-амперные характеристики p-i-n-фотодиодов, содержащих геттеры, сформированные имплантацией ионов бора или сурьмы, на обратной стороне кремниевой пластины. Параллельно исследовались контрольные образцы, прошедшие все этапы технологического процесса изготовления приборов за исключением имплантации примесей в непланарную сторону пластины. Показано, что после формирования геттера электрофизические параметры приборов существенно зависят как от вида внедренных ионов, так и режимов последующих преципитирующего и диффузионного отжигов. Это обусловлено, с одной стороны, геттерированием технологических примесей, которые создают глубокие генерационно- рекомбинационные центры и определяют величину обратного темнового тока p-i-n-фотодиодов. С другой стороны, существенное влияние на величину напряжения пробоя и предпробойный участок вольт-амперной характеристики оказывают процессы дефектно-примесного взаимодействия между радиационными и посттехнологическими дефектами типа дислокаций, микродефектов и т. п. Наличие на вольт-амперных характеристиках p-i-n-фотодиодов ступенчатых участков свидетельствует о термической генерации носителей заряда с глубоких энергетических уровней неоднородно распределенных структурных дефектов и технологических примесей в области пространственного заряда p-i-n-фотодиодов.

##plugins.themes.bootstrap3.article.details##

Как цитировать
ОДЖАЕВ, В. Б., ПЕТЛИЦКИЙ, А. Н., ПРОСОЛОВИЧ, В. С., ШЕСТОВСКИЙ, Д. В., ЯВИД, В. Ю., ЯНКОВСКИЙ, Ю. Н., ИСМАЙЛОВ, Б. К., КЕНЖАЕВ, З. Т., & ВАБИЩЕВИЧ, Н. В. (2025). P-I-N-ФОТОДИОДЫ С ГЕТТЕРАМИ, СОЗДАННЫМИ ИОННОЙ ИМПЛАНТАЦИЕЙ ОСНОВНЫХ ЛЕГИРУЮЩИХ ПРИМЕСЕЙ. Вестник Полоцкого государственного университета. Серия С. Фундаментальные науки, (2), 50-57. https://doi.org/10.52928/2070-1624-2025-45-2-50-57
Биографии авторов

В. Б. ОДЖАЕВ, Белорусский государственный университет, Минск

д-р физ.-мат. наук, проф.

А. Н. ПЕТЛИЦКИЙ, ОАО «ИНТЕГРАЛ» – управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ», Минск

канд. физ.-мат наук, доц.

В. С. ПРОСОЛОВИЧ, Белорусский государственный университет, Минск

канд. физ.-мат наук, доц.

Д. В. ШЕСТОВСКИЙ, ОАО «ИНТЕГРАЛ» – управляющая компания холдинга «ИНТЕГРАЛ», Минск

канд. физ.-мат наук

В. Ю. ЯВИД, Белорусский государственный университет, Минск

канд. физ.-мат. наук

Ю. Н. ЯНКОВСКИЙ, Белорусский государственный университет, Минск

канд. физ.-мат. наук

Б. К. ИСМАЙЛОВ, Ташкентский государственный технический университет имени Ислама Каримова, Узбекистан

д-р философии (PhD) по физ.-мат. наукам, доц.

З. Т. КЕНЖАЕВ, Ташкентский государственный технический университет имени Ислама Каримова, Узбекистан

д-р философии (PhD) по физ.-мат. наукам, доц.

Библиографические ссылки

Imaging lidars for space applications / J. Pereira do Carmo, B. Moebius, M. Pfennigbauer et al. // Novel Optical Systems Design and Optimization XI. – 2008. – Vol. 7061. – P. 70610J-01‒70610J-12.

Intersatellite link for earth observation satellites constellation / P. M. De Carlo, L. Roberto, G. Marano et al. // SPACEOPS, Roma, Italy. – 2006. – P. 19–23.

Semiconductor Devices: Physics and Technology / ed.: S. M. Sze, M.-K. Lee – 3th ed. – Hoboken, NJ: Wiley, 2012. – 592 p.

Springer Handbook of Lasers and Optics: Springer Handbooks / ed.: Träger. F. – Berlin, Heidelberg: Springer Berlin Heidelberg, 2012. – 1694 p.

p-i-n Photodiode Based on Silicon with Short Rise Time / Yu. G. Dobrovolsky, O. P. Andreeva, M. S. Gavrilyak et al. // Journal of Nano-& Electronic Physics. – 2018. − Vol. 10, iss. 4. – P. 04019-1–04019-5.

Мильвидский М. Г., Освенский В. Б. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников. – М.: Металлургия.1984. – 256 c.

Создание геттера в кремнии путем имплантации ионов сурьмы / П. К. Садовский, А. Р. Челядинский, В. Б. Оджаев и др. // Физика твердого тела. – 2018. – Т. 60, № 1. – С. 22–25.

Sah C. T., Noyce R. N., Shockley W. Carrier generation and recombination in p-n junctions and p-n junction characteristics / Proceedings of the IRE. – 1957. – Vol. 45, iss. 9. – P. 1228–1243.

Seebauer E. G., Kratzer M. C. Charged semiconductor defects: structure, thermodynamics and diffusion / Springer Science & Business Media, 2008. – 312 p.

Грехов И. В., Сережкин Ю. Н. Лавинный пробой p-n-перехода в полупроводниках. – Л.: Энергия, 1980. – 152 с.

Мильвидский М. Г., Освенский В. Б. Структурные дефекты в монокристаллах полупроводников. ‒ М.: Металлургия, 1984. – 256 с.

Таланин В. И., Таланин И. Е. Применение диффузионной модели образования ростовых микродефектов для описания дефектообразования в термообработанных монокристаллах кремния // Физика твердого тела. – 2013. – Т. 55, вып. 2. – С. 247–251.

Электрофизические параметры диодов генераторов широкополосного шума / В. В. Буслюк, В. Б. Оджаев, А. К. Панфиленко и др. // Микроэлектроника. – 2020. – Т. 49, № 4. – С. 315–320.

Влияние структурных дефектов на электрофизические параметры p-i-n-фотодиодов / Н. С. Ковальчук, С. Б. Ластовский, В. Б. Оджаев и др. // Микроэлектроника. – 2023. – Т. 52, № 4. – С. 307–314.

Вопросы радиационной технологии полупроводников / Под ред. Л. С. Смирнова. – Новосибирск: Наука, 1980. – 296 с.

Вавилов B. C., Киселев В. Ф., Мукашев Б. Н. Дефекты в кремнии и на его поверхности. – М.: Наука. 1990. – 216 с.

Рекомендуемые статьи автора (авторов)

1 2 3 4 > >>